線膨脹系數(shù)實(shí)驗(yàn)器 型號：TRV-YJ-BXP-Ⅱ

1.實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目：金屬線膨脹系數(shù)的測定

2.直流安全電壓加熱，加熱電壓小于24V，智能控溫，恒溫穩(wěn)定度小于0.1℃

3.恒溫加熱器恒溫范圍：50.0—120.0℃，任意選擇

4.數(shù)字溫度傳感器測量加熱器溫度，測溫范圍：-50.0—125.0℃,測溫精度±0.1℃

5.千分表測量金屬棒的膨脹量，測量范圍：0—1.000mm，膨脹量測量精度：0.001mm

6.待測材料：黃銅、鋁，直徑15mm,長度130mm

7.直流低壓風(fēng)扇強(qiáng)制冷卻恒溫加熱器，可縮短重復(fù)實(shí)驗(yàn)的時(shí)間

8.根據(jù)用戶需要可升級成微機(jī)型線膨脹系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀。

線膨脹系數(shù)實(shí)驗(yàn)器 

產(chǎn)品名稱：大容量離心機(jī)/低速大容量離心機(jī) 產(chǎn)品型號：TDL-5 大容量離心機(jī) 低速大容量離心機(jī) 型號：TDL-5  該機(jī)容量大，采用液晶或數(shù)碼管顯示，操作簡便，外觀美觀大方，人性化設(shè)計(jì)。適用于各種樣品領(lǐng)域。功能特點(diǎn)：1.      采用無刷電機(jī)，微機(jī)控制，轉(zhuǎn)速精確穩(wěn)定；2.      帶有安全可靠電子門鎖，電子機(jī)械一體化，在不通電時(shí)也同樣可以打開3.      內(nèi)部采用鋼架結(jié)構(gòu)，不銹鋼內(nèi)腔、風(fēng)罩4.      轉(zhuǎn)速、相對離心力和升速時(shí)間同步顯示   參數(shù)Technical Data:  Z高轉(zhuǎn)速M(fèi)ax speed：5000 r/min  Z大相對離心力：Max RCF:5000g  電源Power Supply:AC220V 50Hz 10A  定時(shí)范圍TimerRange: 1 min~99min  外形尺寸Dimensions:541×436×442(L×W×H)mm  重量Weight: 48kg a

產(chǎn)品名稱：晶閘管綜合測試儀 產(chǎn)品型號：DBC-021/031

 晶閘管綜合測試儀型號：DBC-021/031

可控硅的伏安特性和觸發(fā)特性是晶閘管的zui基本特性，這些特性的好壞，直接影響到器件在整機(jī)上的正常使用。因此，檢測晶閘管的伏安特性和觸發(fā)特性在晶閘管器件的生產(chǎn)、經(jīng)銷及使用過程中都是十分重要的。測試以上參數(shù)通常由晶閘管伏安特性測試儀和晶閘管門觸發(fā)特性測試儀完成，測試伏安特性參數(shù)時(shí)還需另配一臺(tái)示波器觀看伏安特性曲線，以上三臺(tái)儀器常規(guī)價(jià)在7000—10000元以上，且臺(tái)數(shù)多、占地大、操作不方便。我們根據(jù)廣大用戶的需求，現(xiàn)研制出將以上三臺(tái)儀器作在一起的晶閘管伏安特性、觸發(fā)特性綜合測試儀，深受廣大用戶好評。 
    該測試儀測試方法符合國標(biāo)GB4024-83的規(guī)定，采用單片機(jī)控制，自動(dòng)測試、數(shù)字顯示。線路設(shè)計(jì)簡捷精練，機(jī)內(nèi)示波器可直接觀看伏安特性曲線。具有體積小、重量輕、操作簡單、測試準(zhǔn)確、保護(hù)可靠、維修方便、價(jià)格低廉等特點(diǎn)，能測試各種晶閘管及晶閘管模塊的正反向不重復(fù)峰值電壓、反向重復(fù)峰值電壓、正反向重復(fù)峰值漏電流及門觸發(fā)電流與觸發(fā)電壓。是晶閘管器件生產(chǎn)廠、器件經(jīng)銷商及整機(jī)廠檢測晶閘管多項(xiàng)參數(shù)的綜合性測試設(shè)備。 
    晶閘管在使用過程中，由于受到過流、過壓、過熱等諸多因素的影響，其伏安特性和觸發(fā)特性將會(huì)逐漸變差，甚至不能維持正常使用或*損壞，因此在進(jìn)行整機(jī)維修時(shí)，對已用過的元件和要新上機(jī)的元件進(jìn)行檢測確認(rèn)性能良好后再上機(jī)，對盡快排除設(shè)備故障少走彎路很有好處。

機(jī)內(nèi)自備有示波器供觀看伏安特性曲線  
單片機(jī)控制，測試參數(shù)數(shù)字顯示  
峰值電壓測試范圍: 0-3000V  
峰值漏電流測試范圍: 0-100mA  
觸發(fā)電壓測試范圍: 0-5V  
觸發(fā)電流測試范圍: 5-450mA 
DBC-021、031 可控硅綜合特性測試儀簡介